Il Corso intende dare gli strumenti essenziali per la comprensione delle più importanti tecniche fisiche per lo studio dei materiali di interesse per i Beni Culturali.
Si parlerà quindi di tecniche di Ion Beam Analysis come PIXE e PIGE e Rutherford Backscattering, di metodi di datazione con termoluminescenza e C 14 con AMS, di spettroscopia Mossbauer, di spettroscopia con radiazione di sincrotrone (EXAFS, XANES, XEOL), di spettroscopie NMR ed EPR, di tecniche di superficie come SIMS XPS e Auger, di analisi con attivazione neutronica NAA e di NRA.... fino alle recenti tecniche di imaging OCT e THz.
Si parlerà quindi di tecniche di Ion Beam Analysis come PIXE e PIGE e Rutherford Backscattering, di metodi di datazione con termoluminescenza e C 14 con AMS, di spettroscopia Mossbauer, di spettroscopia con radiazione di sincrotrone (EXAFS, XANES, XEOL), di spettroscopie NMR ed EPR, di tecniche di superficie come SIMS XPS e Auger, di analisi con attivazione neutronica NAA e di NRA.... fino alle recenti tecniche di imaging OCT e THz.
- Teacher: Pier Paolo LOTTICI
- Teacher: Paola IACUMIN